Diffraktometrie unter streifendem Einfall
Diffraktometrie unter streifendem Einfall (grazing incidence diffraction, GID) ist ein Verfahren zur Untersuchung der Kristallstruktur dünner Schichten.
Dazu wird eine Probe unter kleinen Winkeln mit
- Röntgenstrahlung (englisch grazing incidence X-ray diffraction, GIXD) oder
- Neutronenstrahlung (englisch grazing incidence neutron diffraction, GIND)
beleuchtet und die gebeugte Strahlung analysiert. Diffraktometrie unter streifendem Einfall zeichnet sich durch einen besonders flachen Einfallswinkel der Strahlung auf die Probe aus (α < 3°; gesehen nicht von der Normalen zur Probenoberfläche, sondern von der Oberfläche selbst).
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