Interferenzreflexionsmikroskopie
Interferenzreflexionsmikroskopie (auch: Reflexionskontrastmikroskopie) ist eine lichtmikroskopische Methode, mit der sehr dünne Strukturen untersucht werden können. Sie beruht auf der Bildung von Interferenzen, die entstehen, wenn Licht an der oberen und der unteren Grenzfläche der Struktur reflektiert wird und reflektiertes Licht von beiden Grenzflächen miteinander interferiert. Dadurch entstehen Interferenzmuster, die beobachtet werden können, und die Aufschluss über die Dicke der Struktur liefern.
Die entstehenden Interferenzfarben bzw. Interferenzlinien lassen Dickenmessungen im Bereich unter 200 Nanometer zu, also unterhalb der normalen Auflösung des Lichtmikroskops. Die entstehenden Interferenzlinien entsprechen in ihrem Verlauf den Höhenlinien einer Landkarte, sofern der Brechungsindex innerhalb des Objekts konstant bleibt. Da die Interferenzmuster durch ein Lichtmikroskop beobachtet werden, können diese Dickenmessungen entsprechend zu mikroskopisch erkennbaren Strukturen zugeordnet werden, etwa einzelnen Ausläufern von Zellen. Für präzise Messungen der regionalen Schichtdicke bzw. Schichtdickenänderungen sollte monochromatisches Licht verwendet werden, weil die Wellenlänge des Beleuchtungslichts in die Berechnung eingeht. Je kürzer die Wellenlänge, desto feiner ist die vertikale Auflösung. Wird zum Beispiel monochromatisches Grünlicht eingesetzt (Wellenlänge: 546 nm), können in roten Blutzellen (Erythrozyten) Dickenmessungen in einer Auflösung von 113 nm durchgeführt werden. Ähnlich wie bei der Internen Totalreflexionsfluoreszenzmikroskopie (TIRF) ist die Beobachtung auf Objekte an der Präparat-Oberfläche, also in der Nähe des Deckglases, beschränkt.
Das Verfahren hat von verschiedenen Autoren unterschiedliche Namen erhalten. Die älteste Bezeichnung (1964) ist Interference Reflection Microscopy (IRM), auf Deutsch Interferenzreflexionsmikroskopie. Weitere Bezeichnungen sind Reflection Contrast Microscopy (RCM; 1975), auf Deutsch Reflexionskontrastmikroskopie, und Reflection Interference Contrast Microscopy (RICM, 1981). Eine englische Übersichtsarbeit aus dem Jahr 2000 listet außerdem: interference contrast, interference reflection contrast, reflection interference contrast, surface reflection interference und surface contrast microscopy.