3D-SIM-Mikroskop

Das 3D-SIM-Mikroskop (engl. 3D structured illumination microscope) realisiert eine weiterentwickelte Form der Lichtmikroskopie, die Auflösungen jenseits der von Ernst Abbe beschriebenen Auflösungsgrenze ermöglicht. Das Konzept der 3D-SIM-Mikroskopie wurde erstmals von Lukosz und Marchand 1963 vorgestellt und von einem Team um Mats G. L. Gustafsson und John W. Sedat an der University of California, San Francisco weiter entwickelt. Kommerzielle Versionen werden von Applied Precision als „OMX“, von Carl Zeiss als „ELYRA S.1 bzw. PS.1“, sowie von Nikon als „N-SIM“ angeboten.

  1. ↑ W. Lukosz, M. Marchand: Optischen Abbildung Unter Überschreitung der Beugungsbedingten Auflösungsgrenze. In: Optica Acta. 10. Jahrgang, Nr. 3, 1963, S. 241–255, doi:10.1080/713817795.
  2. ↑ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: Superresolution Structured Illumination Microscopy (SR-SIM). White Paper, Carl Zeiss BioSciences, Jena Location 2010 (PDF).
  3. ↑ M. G. Gustafsson, L. Shao, P. M. Carlton et al: Three-dimensional resolution doubling in wide-field fluorescence microscopy by structured illumination. In: Biophysical Journal. Band 94, Nr. 12, Juni 2008, S. 4957–4970, doi:10.1529/ophysj.107.120345, PMID 18326650 (englisch).
  4. ↑ API DeltaVision OMX. Appliedprecision.com, archiviert vom Original (nicht mehr online verfügbar) am 9. Januar 2011; abgerufen am 23. Juni 2010 (englisch).
  5. ↑ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: ELYRA Enter the World of Superresolution. Carl Zeiss BioSciences, Jena Location 2011 (PDF).
  6. ↑ Nikon N-SIM (Memento vom 4. März 2016 im Internet Archive).
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