Bragg-Brentano-Geometrie

Die Bragg-Brentano-Geometrie, auch Bragg-Brentano-Anordnung genannt, ist eine Anordnung zur Messung von Pulverdiffraktogrammen. Sie wurde erstmals 1925 von Brentano vorgeschlagen. Da in dieser Geometrie keine Filmaufnahmen möglich sind, erlangte sie erst mit der Entwicklung von Röntgenstrahl detektoren praktische Bedeutung und ist heute die gebräuchlichste Anordnung in der Pulverkristallographie.

Durch diese Methode erzielt man eine gute Auflösung bei hoher Intensität. Die Analyse dieser Diffraktogramme kann durch die Rietveld-Methode oder durch Vergleich mit einer Datenbank erfolgen.

↑ J. C. M. Brentano: Focussing method of crystal powder analysis by X-rays. In: Proc. Phys. Soc. [London]. Band 37, Nr. 1, 1924, S. 184–193, doi:10.1088/1478-7814/37/1/326.
↑ H.S. Peiser, etc: X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials. Chapman and Hall, 1960, ISBN 0-412-06050-7.
↑ Harold Philip Klug, LeRoy E. Alexander: X-Ray Diffraction Procedures: For Polycrystalline and Amorphous Materials. 2. Auflage. John Wiley & Sons, 1974, ISBN 0-471-49369-4.

[1] J. C. M. Brentano: Focussing method of crystal powder analysis by X-rays. In: Proc. Phys. Soc. [London]. Band 37, Nr. 1, 1924, S. 184–193, doi:10.1088/1478-7814/37/1/326.

[2] H.S. Peiser, etc: X-ray Diffraction by Polycrystalline Materials. Chapman and Hall, 1960, ISBN 0-412-06050-7.

[3] Harold Philip Klug, LeRoy E. Alexander: X-Ray Diffraction Procedures: For Polycrystalline and Amorphous Materials. 2. Auflage. John Wiley & Sons, 1974, ISBN 0-471-49369-4.