Environmental Scanning Electron Microscope

Das Environmental scanning electron microscope (ESEM) stellt eine spezielle Variante des Rasterelektronenmikroskops dar. Der wesentliche Unterschied zu einem konventionellen Rasterelektronenmikroskop (REM, bzw. engl. SEM) ist das geringere Vakuum (höherer Druck) in der Probenkammer und der speziell angepasste Detektor.

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