Röntgenmikroskopie

Röntgenmikroskopie ist ein Mikroskopieverfahren, das statt sichtbarem Licht Röntgenstrahlung, also Strahlung im Wellenlängenbereich von 10 nm bis 1 pm nutzt. Die Geräte werden auch als X-ray Microscopes (XRM) bezeichnet und werden von Herstellern wie Bruker, Horiba, Rigaku, Sigray, ZEISS, uvm. entwickelt und angeboten.

↑ Arndt Last: Röntgenmikroskopie. In: x-ray-optics.de. Abgerufen am 3. Januar 2026.
↑ I. Snigireva, A. Snigireva: MICROSCOPY TECHNIQUES | X-Ray Microscopy. In: Encyclopedia of Analytical Science. Elsevier, 2005, ISBN 978-0-12-369397-6, S. 151–158, doi:10.1016/b0-12-369397-7/00729-9 (englisch, elsevier.com [abgerufen am 3. Januar 2026]).
↑ Gema Martinez-Criado, Elisa Borfecchia, Lorenzo Mino, Carlo Lamberti: Micro- and Nano-X-ray Beams. In: Characterization of Semiconductor Heterostructures and Nanostructures. Elsevier, 2013, ISBN 978-0-444-59551-5, S. 361–412, doi:10.1016/b978-0-444-59551-5.00009-1 (englisch, elsevier.com [abgerufen am 3. Januar 2026]).

[1] Arndt Last: Röntgenmikroskopie. In: x-ray-optics.de. Abgerufen am 3. Januar 2026.

[2] I. Snigireva, A. Snigireva: MICROSCOPY TECHNIQUES | X-Ray Microscopy. In: Encyclopedia of Analytical Science. Elsevier, 2005, ISBN 978-0-12-369397-6, S. 151–158, doi:10.1016/b0-12-369397-7/00729-9 (englisch, elsevier.com [abgerufen am 3. Januar 2026]).

[3] Gema Martinez-Criado, Elisa Borfecchia, Lorenzo Mino, Carlo Lamberti: Micro- and Nano-X-ray Beams. In: Characterization of Semiconductor Heterostructures and Nanostructures. Elsevier, 2013, ISBN 978-0-444-59551-5, S. 361–412, doi:10.1016/b978-0-444-59551-5.00009-1 (englisch, elsevier.com [abgerufen am 3. Januar 2026]).