3D-SIM-Mikroskop

Das 3D-SIM-Mikroskop (engl. 3D structured illumination microscope) realisiert eine weiterentwickelte Form der Lichtmikroskopie, die Auflösungen jenseits der von Ernst Abbe beschriebenen Auflösungsgrenze ermöglicht. Das Konzept der 3D-SIM-Mikroskopie wurde erstmals von Lukosz und Marchand 1963 vorgestellt und von einem Team um Mats G. L. Gustafsson und John W. Sedat an der University of California, San Francisco weiter entwickelt. Kommerzielle Versionen werden von Applied Precision als „OMX“, von Carl Zeiss als „ELYRA S.1 bzw. PS.1“, sowie von Nikon als „N-SIM“ angeboten.