Optisches Rasternahfeldmikroskop

Ein optisches Rasternahfeldmikroskop (scanning nearfield optical microscope, SNOM, in den USA auch als NSOM bezeichnet) umgeht die Auflösungsgrenze des optischen Mikroskops, indem es nur Licht auswertet, das zwischen einer sehr kleinen (100 nm oder weniger) Nahfeldsonde und der untersuchten Probe ausgetauscht wird. Mit dem optischen Rasternahfeldmikroskop kann eine räumliche Auflösung von etwa 30 nm und weniger erreicht werden.